高频lcr电表-综合信号分析仪-高精度功率计-上海骋利电子科技有限公司

GO-SPEX500 空间光谱辐射计 内置暗室设计，精确测量光源或灯具的空间光强分布、空间颜色分布 典型应用场景 适用于各类室内灯具、投光灯具、道路照明灯具和各类光源的配光性能测试、灯具总光通量、灯具效率及电参数（电压、电流、功率、功率因数）等测量。

LED626/620 单颗LED分布光度计 一体化设计、精密LED机械定位 典型应用场景 可测量光强数据并自动绘制光强分布曲线、光通量，测试条件符合CIE条件A（远?。┗蛱跫﨎（近场）。此外远方分布光度计应用软件还能为客户提供三维光强分布图。

GO-SPEX100 空间光谱辐射计 采用度特暗箱设计，精确测LED封装空间光强分布、空间颜色分布 典型应用场景 GO-SPEX100空间光谱分布测量仪集合LED光、色、电综合测试功能，且内置精密温控平台，可实现LED的精确控温，不仅用于测量特定温度下LED的光色参数，还可以测量其光色性能随温度变化的特性。

远方RGO-60T机器人分布光度计能适应各类室内灯具、投光灯具、道路照明灯具、车载灯具的配光性能测试，测试参数包括：空间光强分布曲线、空间颜色分布、空间亮度分布、等光强曲线、平面相对等照度曲线、空间等照度曲线、亮度限制曲线、光束角、上射/下射光通比、灯具总光通量、灯具效率及电参数（电压、电流、功率、功率因数）等

TRA-300 LED热结构分析测试系统 采用多项砖利技术，具备精细结构功能函数分析 典型应用场景 可精确测LED封装产品的热阻、结温、光功率、电压、电流等参数?；箍傻玫絃ED的升温、降温曲线，并通过建立有限元模型，得到积分及微分热结构函数。

LT-200A 单颗LED/LED模组加速老化与寿命测试系统 通过美国NVLAP关于LM-80的认可 典型应用场景 LT-200A单颗LED和LED模组加速老化与寿命测试系统主要用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化试验、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。系统能实时监测LED样品的光色电参数及基座温度等，通过对数据进行处理，绘制老炼曲线，推算出该LED样品的预期寿命。

LT-300A LED灯和灯具加速老化与寿命测试系统 多家检验实验室已使用老化寿命测试系统通过美国NVLAP关于LM-82和LM-84的认可 典型应用场景 系统主要用于LED灯及灯具产品的光电特性随温度变化的函数试验、常规老化、加速老化试验、光通维持特性试验和寿命试验等。

LT-500A LED灯和灯具加速老化与寿命测试系统 多家检验实验室已使用老化寿命测试系统通过美国NVLAP关于LM-82和LM-84的认可 典型应用场景 系统主要用于LED灯及灯具产品的光电特性随温度变化的函数试验、常规老化、加速老化试验、光通维持特性试验和寿命试验等。

OST-500 光辐射安全测定系统 自动化程度更高的新一代200nm-3000nm全波段范围完整解决方案 典型应用场景

LST-2000 激光光生物安全测试系统 适用于各种光源、单脉冲光源和多脉冲光源 典型应用场景 本系统可测量激光光源的光谱功率分布、辐射功率、辐射能量、表观光源尺寸、脉冲能量等参数，并根据标准IEC 60825.1对激光光源进行安全等级分类。